半导体检测设备申报规范
近日，很多企业对于半导体检测设备进口的申报有许多问题，本文梳理了海关对于半导体检测设备的审核流程及申报规范，为大家解答。
一、海关审核流程
1、根据《中华人民共和国海关进出口商品规范申报目录》第十八类第90章，税则号列90308200（测试或检验半导体晶片或器件用的仪器或装置）的申报要素来审核。包括：
2、海关需要企业明确该设备或仪器检测的对象，必须为半导体。
3、海关需要了解所申报检测设备的检测方法，常见的检测方法包括射线、光学、电性，亦或是超声波等。
4、测试的指标（电流、电压、功率、外观缺陷等）以及最终显示的结果也是海关审核的重点。
5、检测设备是否带有分选装置，也是影响海关审核结果的因素之一。
二、半导体设备的检测设备。
1、晶圆表面瑕疵检测设备
此类商品利用光学设备（摄像头等）扫描晶圆或半导体器件的表面，与标准图像进行比较，以确认产品是否合格，本身不检测相关电参量。
此类商品利用光学原理检测半导体产品的表面，符合税则税目90.31及其子目条文的描述，根据归类总规则一及六，应将其按其他检测半导体晶圆、器件的光学仪器归入税则号列9031.4100。
2、检测半导体器件的万用表
此类商品通常被半导体生产厂商采购，部分型号因为其结构、参数范围等原因具有专用性，大部分实为通用设备，且检测的电参数仅为电流、电压、电阻或电功率中的一种或几种。
此类商品不论是否专用或通用于检测半导体设备，均符合税则税目90.30及其子目条文的描述，根据归类总规则一及六，应将其按检测电压、电流、电阻或功率的仪器归入子目9030.3项下。
3、半导体器件的其他电参量检测设备
此类商品具有专用性，检测半导体产品的各项电参量指标。上述指标不仅可能包括电流、电压、电阻或电功率中的一种或几种，还应包括其他电参数。
此类商品用于半导体产品的各种电参量，且其检测参数的范围超出了子目9030.3的定义，符合税则税目90.30及其子目条文的描述，根据归类总规则一及六，应将其按测试或检验半导体晶圆或器件的电量检测设备归入税则号列9030.8200。
4、检测发光二极管（LED）亮度的仪器
此类商品是检测LED（半导体产品的一种）光度的设备，利用光学原理工作，不检测电参数。
此类商品属于光度检测装置，满足《税则注释》关于品目90.27项下关于“光度计”的定义，符合税则税目90.27及其子目条文的描述，根据归类总规则一及六，应将其按利用光学射线的理化检测仪器归入税则号列9027.5000。
5、半导体的综合检验台
此类商品不仅检测半导体产品的电参数，也检测半导体产品的其他参数，检测方式包括光学、机械、电等多种方法。
此类商品通过各种手段（光学、机械、电）检测半导体产品的各种参数（包括电量、非电量），符合税则税目90.31及其子目条文的描述，根据归类总规则一及六，应将其按其他税目未列名的检测设备归入税则号列9031.8090。
6、少子寿命测试仪
此类商品以微波光电导衰减法测试被检材料的电导率变化，判断半导体硅材料的少数载流子寿命，是一种典型的半导体产品质量检测装置，用于判断半导体产品的好坏。
此类商品通过微波光电导衰减法测试被检材料的电导率变化，判断半导体硅材料的少数载流子寿命。检测结果为少子的寿命（单位为秒），而非电量，符合税目90.31及其子目条文的描述，根据归类总规则一及六，应将其按其他测量或检验仪器归入税则号列9031.8090。（归类决定编号：Z2009-078）。
综上所述，半导体检测设备由于检测对象、检测方法、检测指标以及检测显示结果的不同，归入的税号可能不同。
